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斯派克SPECTROCHECK直讀光譜儀

日立FT110A臺式XRF镀層測厚儀,鋅層測厚儀

商品類別: 日立镀層測厚儀
    FT110A 是一款臺式 XRF 分析儀,旨在應對生產中镀層分析的挑戰。強大的 X 射線荧光技藝與自動定位性能相結合,有助於提高電镀車間的生產力,同時確保組件符合嚴苛標準。
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      镀層測厚儀


      FT110A 是一款臺式 XRF 分析儀,旨在應對生產中镀層分析的挑戰。強大的 X 射線荧光技藝與自動定位性能相結合,有助於提高電镀車間的生產力,同時確保組件符合嚴苛標準。


      準確性和可靠性是幫助品質控製的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可供應當今電镀組件所需的準確性。更新的成像系統、自動樣品定位和大樣品臺使該分析儀非常易於使用,提高了通量並減少了人為錯誤。性能強大的 FT110A 能夠同時測量多達四層以及基材,將全天候幫助您的設施滿足工業電镀規範。


      技藝規格


      FT110A – 測量極小目標


      FT110A 幫助諸多的工業確保符合電镀規範,以避免出現性能低下的風險以及與廢料或返工相關的成本。此外,該儀器可減少一系列測量所需的時間,從而幫助提高生產力。


      在任何品質保證或品質控製系統中,準確性和可靠性均至關重要,持有改良的 X 射線荧光技藝的FT110A將使您的商品滿足最高標準的工業規範要求。


      借助更新的成像系統、全新的自動測量定位性能和大型樣品臺,確保這臺镀層分析儀易於使用並提高分析效率。


      基於 Windows 系統的 X-ray Station軟件供應直觀的用戶界面,用戶可對該儀器進行全面控製。


      通過將數據直接整合到 Microsoft™ Word 和 Excel中來簡化您的品質保證/品質控製流程。


      FT110A測厚儀


      為何如此多的實驗室改為使用 FT110A?


      快速分析

      強大的高靈敏度分析組件可以在數秒內測量镀層厚度和成分。


      無損

      X 射線荧光是無損分析過程,不留任何痕跡。即使是對敏感性材料,其測量也是安全的;同時無需丟棄被測量過的樣品。


      多性能性

      FT110A 可以分析多達四層镀層和基材。可以使用基本參數 (FP) 或經驗校準來測量镀層和材料成分(如金屬合金或電镀液)。


      易於使用

      培訓可輕松完成,因此任何人都可以操作 FT110A。只需在工作臺上設置樣品,借助友好的界面指定測量區域,然後開始記錄讀數。用戶界面可配置為僅顯示日常操作所需的性能。


      快速分析

      強大的高靈敏度分析組件可以在數秒內測量镀層厚度和成分。


      兼容性

      測量方法符合標準 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。


      FT110A操作簡單


      商品亮點


      專為高通量生產而策劃,來看 FT110A 如何幫助您的品質控製。


      • 強大的高靈敏度技藝可在幾秒鐘內供應結果

      • 對成品安全的無損檢測

      • 自動化性能提高生產力

      • 分析多達四層和基材,加上電镀液

      • 易於非專業操作員使用

      • 測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987

      • 大樣品艙可容納各種樣品

      • 可定製的選項以適合您的應用


      FT110-01-01-01-01.jpg


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