廣州儀德公司專業銷售日本理學波譜，波譜不限於材料的形狀，應用多範圍金屬元素的測定分析。本文章簡單展現日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線荧光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石範圍對巖石測定分析供應寶貴經驗。

使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關註的測量範圍放大後進行了分析。

紅框內擴大了的範圍由右圖表示。

可以更精密地指定測量位置。

面掃3描分析結果

微區測繪

測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和數據(圖、測量數據)來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。

各測量點的Mg-Kα的譜線比較

SQX方法做的定點分析結果

γ-θ樣品臺徹底解決了X射線照射不均以及分光晶體反射強度不均的問題，保證樣品在X射線最強、最佳條件下測量。

測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內。γ-θ平臺分辦率為100μm,達成了快速精確的點、線、面分析。